Phison-Forschung führt zu verbesserter Methode zum Testen der 3D-NAND-Haltbarkeit
Wenn es um elektronische Geräte – und die Komponenten, aus denen sie bestehen – geht, ist Haltbarkeit von größter Bedeutung. Kürzlich haben Phison-Forscher herausgefunden, dass die branchenübliche Testmethode zur Vorhersage der Lebensdauer eines Geräts beim Testen der Haltbarkeit äußerst ungenau war ...